由透射电子显微镜（以下简称TEM）的原理可知，只有足够薄的样品，才能在TEM中安排测试，当样品过厚时，在TEM中观察到的便是黑色的一大片，无法观察到微观形貌。因此，TEM的制样也有很多讲究的地方，今天铄思百小编就来讲讲透射电镜一共有哪些制样的方法。

粉末样品

常规的粉末样品，直接用普通的铜网（含有载网部分）装载样品即可。由于粉末样品可能会吸附在一起，导致样品形成较厚的一团，所以通常制样时会将样品放置在超纯水或乙醇中进行超声，之后滴在铜网上，此时样品会均匀分散到支持膜上，即可进行正常的拍摄。

块状或固体样品

超薄切片制样：对于生物样品或高分子样品等，其微观结构通常较厚，如果要进行正常的透射电镜拍摄，通常需要进行制样处理，常用的方法是超薄切片制样。超薄切片制样基本的步骤包含取材、固定、脱水、浸透、包埋、切片及染色。

离子减薄制样：当样品为金属或陶瓷片状样品时，对该种较厚的样品处理时，可以使用离子减薄制样。离子减薄制样是一种传统减薄技术，其基本介绍为利用氩离子枪发射一定能量的聚焦氩离子束对样品表面特定区域进行连续冲击，实现研磨减薄样品的方法。操作相对简单一些。

FIB制样：FIB是指聚焦离子束技术（Focused Ion beam）简称：FIB。其原理和离子减薄类似，都是使用离子源产生的离子束经过离子枪加速,聚焦后作用于样品表面，实现样品材料的剥离、沉积、注入、切割和改性。其中大多数FIB均使用镓Ga离子源。该种方法与离子减薄不同的是，FIB可以对样品表面的某一小部分区域进行剥离，所以其操作精度也会更高。

总结

以上介绍的方法就是目前常用的几种透射电镜的纸样方法，通常需要根据自己测试的目的来选用合适的制样方法，这样才能在TEM电镜测试时拍出想要的图片。本文中对集中TEM的制样方法做了简单的介绍，如果还需了解更多，欢迎咨询铄思百检测！我们提供TEM测试服务。铄思百检测实验室属于科学研究检测实验室，对外提供TEM测试服务。3-5个工作日左右出具准确分析检测数据。铄思百检测实验室设备先进，为高校及企业提供科学研究的试验方案和强大的服务支持，支持各地上门取样/寄样测试服务.欢迎联系送样检测